场效应晶体管好坏测试仪

来源 electronics-lab
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发布时间 2013-12-15

这是对非稳态多谐振荡器的变体。电路是最近开发的用于测试N-氧化物半导体场效应晶体管(如IRF830那种功率管)

电路可以测试所有的坏MOSFET或所有故障MOSFET。如果MOSFET工作,将工作在非稳态多谐振荡器电路使LED闪烁。

一个坏的MOSFET不会导致LED闪烁。

下面是电路图,非稳态的另一半利用一个NPN晶体管,使得电路便宜。几乎所有的NPN晶体管能够工作在这个电路。

场效应晶体管好坏测试仪

右边的NPN晶体管作为一级缓冲放大,驱动LED闪烁。

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